白光干涉儀是一種基于寬帶光源的精密測量儀器，其核心原理在于利用低相干光的干涉特性，實現(xiàn)對樣品表面形貌或薄膜厚度的高精度、非接觸測量。與單色光干涉不同，白光干涉因其寬光譜特性，使得干涉現(xiàn)象僅在光程差極小范圍內發(fā)生，這一特性被廣泛應用于微觀形貌檢測、光學薄膜表征及微結構分析等領域。其關鍵技術正是基于光譜干涉模式的生成與解析。

　　一、光譜干涉的物理基礎

　　當一束白光（寬帶光源）通過分束鏡分為兩束，一束射向參考鏡，另一束射向待測樣品后，兩束光重新匯合并發(fā)生干涉。由于白光相干長度極短（通常僅為微米量級），干涉條紋僅在兩光路光程差接近零的極小區(qū)域內出現(xiàn)。這種干涉圖樣被光譜儀或攝像頭接收后，可分解為不同波長下的光強分布，形成光譜干涉信號。每個波長成分的干涉可表示為：

　　I(k,Δz) = I0(k)[1+γ(k) cos(2kΔz+?0]

　　其中，k=2π/λ為波數(shù)，Δz為光程差，γ(k)為光譜調制函數(shù)，?0為初相位。該公式表明，干涉信號隨波數(shù)和光程差周期性變化，形成頻域上的振蕩模式。

　　二、干涉信號的解碼與處理

　　光譜干涉模式的核心信息蘊含于頻域的相位變化中。通過傅里葉變換或相位提取算法（如希爾伯特變換），可以從干涉光譜中解調出光程差信息。具體而言：

　　1.干涉包絡定位：在光程差掃描過程中，干涉信號僅在一小段范圍內顯著出現(xiàn)，其包絡峰值對應零光程差位置，從而確定樣品表面高度。

　　2.相位解析：通過對干涉光譜進行相位展開，可進一步提高分辨率，實現(xiàn)亞納米級的精度測量。

　　這種方法的優(yōu)勢在于，無需機械掃描即可通過單次光譜采集獲取高度信息，特別適用于動態(tài)或敏感樣品的測量。

　　三、技術優(yōu)勢與應用前景

　　白光干涉儀的光譜模式處理使其兼具高精度與高效率：一方面，寬光譜提供了豐富的頻域信息，提高了抗干擾能力和穩(wěn)定性；另一方面，無需縱向掃描即可實現(xiàn)快速測量，適用于在線檢測和實時監(jiān)控。目前，該技術已廣泛應用于半導體制造、MEMS器件檢測、生物顯微鏡成像等領域。

　　未來，結合算法優(yōu)化（如深度學習用于相位解算）和新型光源（如超連續(xù)譜光源），光譜干涉技術將進一步拓展其測量極限，為納米科學與工程提供更強有力的工具。

　　四、結語

　　白光干涉儀的光譜干涉模式原理，體現(xiàn)了光學測量中“以頻域解析空間信息”的巧妙思路。它不僅奠定了現(xiàn)代精密測量的基礎，也為多學科交叉研究提供了關鍵技術支持。從微觀形貌到薄膜厚度，光譜干涉之光，照亮了精密工程的無盡可能。