Sensofar三維共聚焦白光干涉儀

產(chǎn)品簡介

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀
Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領(lǐng)域的高精度檢測需求。

產(chǎn)品型號：S neox

更新時間：2025-09-08

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：60

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PRODUCT CLASSIFICATION

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款集成了共聚焦、白光干涉和多焦面疊加技術(shù)的高精度光學輪廓測量設(shè)備，廣泛應用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用非接觸式測量方式，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級表面形貌的高精度測量。

在性能方面，Sensofar設(shè)備具備高分辨率和高穩(wěn)定性，支持多種測量模式，如共聚焦、白光干涉和多焦面疊加，適用于不同表面特性樣品的測量。設(shè)備支持多種樣品臺和自動聚焦功能，便于靈活調(diào)整測量參數(shù)。

Sensofar設(shè)備的光學系統(tǒng)采用高線性電容傳感器和閉環(huán)反饋壓電陶瓷，確保測量的穩(wěn)定性和重復性。設(shè)備支持多種物鏡選擇，適用于不同放大倍率和工作距離的需求。

Sensofar設(shè)備廣泛應用于半導體、精密光學、材料科學、生物醫(yī)學和工業(yè)制造等領(lǐng)域，適用于表面粗糙度、臨界尺寸和三維形貌的測量。設(shè)備操作簡便，支持多種軟件分析工具，便于用戶快速完成測量和分析。

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款高性能、高精度的光學測量設(shè)備，適用于多種復雜表面的高精度測量需求。Sensofar三維共聚焦白光干涉儀

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