Sensofar輪廓儀領(lǐng)略微觀測量魅力

產(chǎn)品簡介

Sensofar輪廓儀領(lǐng)略微觀測量魅力
Sensofar 的三維共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀，以其設(shè)計理念與技術(shù)整合能力，為科研實驗室和工業(yè)生產(chǎn)線提供了穩(wěn)定的微觀測量支持，XPLore 型號便是其中的典型代表。

產(chǎn)品型號：S neox

更新時間：2026-01-05

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：322

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀

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Sensofar 三維共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀中的部分型號采用四合一技術(shù)方案，集成共聚焦、干涉、Ai 多焦面疊加和膜厚測量四種功能，通過智能算法實現(xiàn)不同技術(shù)的無縫切換，減少了數(shù)據(jù)采集過程中的噪點干擾，讓測量結(jié)果更接近樣品真實狀態(tài)。Sensofar輪廓儀領(lǐng)略微觀測量魅力

數(shù)據(jù)采集速度方面，其幀率可達 180fps，標(biāo)準(zhǔn)測量采集速度較傳統(tǒng)設(shè)備有明顯提升。這意味著在相同時間內(nèi)，可完成更多樣品的檢測，尤其適合工業(yè)生產(chǎn)線的批量檢測場景，如電子元件的快速篩選。

各項技術(shù)各有側(cè)重：共聚焦技術(shù)適合高斜率表面測量，憑借高橫向分辨率捕捉細(xì)微結(jié)構(gòu)；干涉技術(shù)能實現(xiàn)亞埃分辨率，是高度光滑表面（如光學(xué)鏡片）測量的理想選擇；Ai 多焦面疊加技術(shù)則針對大粗糙表面，以較快的速度完成三維數(shù)據(jù)采集。系統(tǒng)在出廠前，使用符合 ISO25178 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的可追溯標(biāo)準(zhǔn)塊進行校正，確保測量數(shù)據(jù)的可追溯性，滿足科研數(shù)據(jù)比對與工業(yè)質(zhì)量認(rèn)證的要求。

操作軟件 SensoSCAN 采用直觀的圖形化界面，新手用戶通過引導(dǎo)式操作流程即可快速進入 3D 測量環(huán)境。軟件內(nèi)置多種測量模板，針對不同樣品類型（如臺階、溝槽、球面）自動匹配合適的測量參數(shù)，降低了操作門檻。在實際應(yīng)用中，它適用于微型 BUMPS 測量等精密任務(wù)，能快速分析其高度、直徑和平整度等數(shù)據(jù)，幫助生產(chǎn)線及時調(diào)整工藝參數(shù)，提高生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量。無論是科研人員探索新材料的微觀特性，還是工程師監(jiān)控生產(chǎn)過程的質(zhì)量波動，都能從中獲得可靠的測量支持。Sensofar輪廓儀領(lǐng)略微觀測量魅力

上一個：S neoxSensofar輪廓儀微觀世界的精密之眼