布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀包含多個型號，常見的有Explorer系列和Contour系列。Explorer系列注重靈活性和擴展性，支持多種附件和自定義配置；Contour系列側(cè)重于自動化和大批量測量，適合工業(yè)環(huán)境。布魯克白光干涉輪廓儀型號與參數(shù)詳解

主要參數(shù)包括：垂直分辨率通常為0.1納米至1納米，橫向分辨率取決于物鏡，范圍在0.3微米到10微米之間。掃描速度可達每秒數(shù)微米至數(shù)百微米，具體取決于測量模式和精度設(shè)置。視場大小隨物鏡變化，從0.1毫米到10毫米不等。

儀器結(jié)構(gòu)采用鋁合金框架，重量較輕且剛性較好。光學(xué)部件使用石英玻璃和抗反射涂層，提高透光率和耐用性。電源模塊符合國際安全標準，適應(yīng)100-240V電壓輸入。

該產(chǎn)品用于精密制造、科研實驗和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。例如，在汽車工業(yè)中，可用于發(fā)動機部件表面磨損分析；在 academia，支持材料表面研究。使用前需進行開機校準，通過軟件向?qū)瓿沙跏荚O(shè)置。測量過程中，用戶可選擇自動或手動模式，軟件實時顯示三維形貌圖像和數(shù)據(jù)曲線。

維護方面，建議定期檢查光學(xué)路徑清潔度和機械部件潤滑情況。長期停用時，需覆蓋防塵罩并存儲于干燥環(huán)境中。

在材料方面，儀器基座采用阻尼材料以減少外部振動，光學(xué)組件安裝在溫度穩(wěn)定性較高的結(jié)構(gòu)上，降低熱脹冷縮帶來的誤差。樣品臺通常由不銹鋼制成，表面經(jīng)過防腐蝕處理，適合多種環(huán)境使用。

該產(chǎn)品提供多種型號，例如標準型、高速型和高分辨率型，滿足不同應(yīng)用場景的需求。標準型號適用于常規(guī)實驗室環(huán)境，而高速型號適合生產(chǎn)線上的快速檢測。高分辨率型號則針對科研領(lǐng)域，提供更細致的表面細節(jié)捕捉。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀通過白光干涉技術(shù)實現(xiàn)高分辨率表面測量。其性能特點包括良好的重復(fù)性和適應(yīng)性，能夠處理不同反射率的樣品，從高反光金屬到透明薄膜均可測量。

設(shè)備采用LED白光光源，壽命較長且光譜穩(wěn)定，有利于保持測量的一致性。干涉鏡頭內(nèi)置參考鏡，通過壓電陶瓷驅(qū)動器實現(xiàn)納米級精度的掃描移動。系統(tǒng)內(nèi)置振動補償算法，減少環(huán)境干擾對測量結(jié)果的影響。

在材料方面，儀器基座采用阻尼材料以減少外部振動，光學(xué)組件安裝在溫度穩(wěn)定性較高的結(jié)構(gòu)上，降低熱脹冷縮帶來的誤差。樣品臺通常由不銹鋼制成，表面經(jīng)過防腐蝕處理，適合多種環(huán)境使用。

該產(chǎn)品提供多種型號，例如標準型、高速型和高分辨率型，滿足不同應(yīng)用場景的需求。標準型號適用于常規(guī)實驗室環(huán)境，而高速型號適合生產(chǎn)線上的快速檢測。高分辨率型號則針對科研領(lǐng)域，提供更細致的表面細節(jié)捕捉。

用途廣泛，包括MEMS器件測量、涂層厚度分析、磨損表面檢測等。使用時需注意環(huán)境光線控制，避免強光直射干擾測量。軟件提供多種分析工具，如粗糙度計算、體積分析和輪廓對比，幫助用戶全面評估表面特性。布魯克白光干涉輪廓儀型號與參數(shù)詳解