澤攸多功能電鏡的實用之選

產品簡介

澤攸多功能電鏡的實用之選
澤攸電鏡以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM）通過更換樣品臺與探測器即可實現(xiàn)不同模式的切換。

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更新時間：2025-10-21

廠商性質：代理商

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臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸電鏡以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM通過更換樣品臺與探測器即可實現(xiàn)不同模式的切換。

作為 SEM 使用時，加速電壓 5 - 50kV，二次電子分辨率 2.0nm；切換至 TEM 模式后，可對薄樣品進行觀察，點分辨率達 0.2nm，晶格分辨率 0.14nm。設備配備高角度環(huán)形暗場探測器（HAADF），能通過原子序數(shù)襯度成像，清晰觀察納米顆粒的分布。澤攸多功能電鏡的實用之選

機械結構采用大理石底座，有效吸收外界振動，保證高倍成像時的穩(wěn)定性。電子光學系統(tǒng)的透鏡采用無磁材料制造，減少磁場對電子束的干擾。參數(shù)表中顯示，其最大樣品傾斜角為 60°，適合進行動態(tài)原位觀察，如材料在拉伸過程中的微觀結構變化。

參數(shù)方面，放大倍數(shù) 200 - 2,000,000 倍，樣品臺可實現(xiàn) ±30° 傾斜與 360° 旋轉，便于觀察樣品的立體結構。使用時，通過軟件可聯(lián)動控制電鏡與 EDS 系統(tǒng)，一鍵完成成像與成分分析的切換。

在航空航天材料檢測中，可用于分析渦輪葉片的氧化層成分；在地質研究中，能識別礦物顆粒中的微量元素分布，為多領域研究提供微觀結構與成分的關聯(lián)數(shù)據(jù)。

使用說明強調了模式切換的操作規(guī)范：更換樣品臺時需關閉電子槍，待真空破壞后進行操作，重新抽真空至規(guī)定值方可繼續(xù)工作。適用于跨學科研究，如在新能源領域，既能觀察電池電極的表面形貌，又能分析電極材料的晶體結構。澤攸多功能電鏡的實用之選

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