澤攸臺(tái)階儀：微觀形貌的忠實(shí)記錄者

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澤攸臺(tái)階儀：微觀形貌的忠實(shí)記錄者
澤攸臺(tái)階儀以穩(wěn)定的測(cè)量表現(xiàn)，成為材料表面分析的實(shí)用工具。其核心測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光柵尺，配合精密驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，為位移測(cè)量提供可靠基礎(chǔ)。

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更新時(shí)間：2025-10-21

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臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸臺(tái)階儀以穩(wěn)定的測(cè)量表現(xiàn)，成為材料表面分析的實(shí)用工具。其核心測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光柵尺，配合精密驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，為位移測(cè)量提供可靠基礎(chǔ)。澤攸臺(tái)階儀：微觀形貌的忠實(shí)記錄者

該型號(hào)測(cè)量范圍為 0 - 100μm，垂直分辨率達(dá) 0.1nm，能捕捉微小的臺(tái)階高度差異。掃描長(zhǎng)度可在 10μm - 10mm 之間調(diào)節(jié)，滿足不同尺寸樣品的測(cè)量需求。傳感器采用金剛石觸針，針尖半徑 5μm，測(cè)力范圍 2 - 20mg，減少對(duì)軟質(zhì)樣品表面的損傷。

設(shè)備機(jī)身選用鑄鐵材質(zhì)，經(jīng)時(shí)效處理消除內(nèi)應(yīng)力，有效降低外界振動(dòng)對(duì)測(cè)量的影響。操作面板設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔，通過(guò)旋鈕與按鍵可快速設(shè)置測(cè)量參數(shù)，配套軟件支持?jǐn)?shù)據(jù)的實(shí)時(shí)顯示與后期分析，能生成臺(tái)階高度、粗糙度等參數(shù)報(bào)告。

使用時(shí)，將樣品固定在工作臺(tái)上，調(diào)整觸針位置使其輕觸樣品表面，設(shè)置掃描速度（0.1 - 1mm/s）和掃描長(zhǎng)度后啟動(dòng)測(cè)量。適用于薄膜厚度檢測(cè)、涂層臺(tái)階分析等場(chǎng)景，如半導(dǎo)體晶圓的鍍膜厚度測(cè)量，為生產(chǎn)質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持。澤攸臺(tái)階儀：微觀形貌的忠實(shí)記錄者

澤攸臺(tái)階儀在設(shè)計(jì)上注重?cái)U(kuò)大測(cè)量范圍的同時(shí)保持測(cè)量精度，其驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)采用伺服電機(jī)，運(yùn)行平穩(wěn)，掃描過(guò)程中觸針測(cè)力波動(dòng)小。

測(cè)量范圍擴(kuò)展至 0 - 200μm，垂直分辨率 0.05nm，水平分辨率 10nm，能應(yīng)對(duì)更深的臺(tái)階與更細(xì)微的表面特征。掃描長(zhǎng)度最大可達(dá) 50mm，適合較大尺寸樣品的整體測(cè)量，如 PCB 板的線路臺(tái)階檢測(cè)。

上一個(gè)：澤攸科研的電鏡解決方案