對于預(yù)算有限但追求高效計量的實驗室與工廠，布魯克ContourX-200提供了兼顧性能與成本的理想選擇。這款光學(xué)輪廓儀以模塊化設(shè)計與易用性為核心，覆蓋了從薄膜厚度到關(guān)鍵尺寸測量的多元需求。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)與性能
ContourX-200搭載500萬像素攝像頭與新型電動XY載物臺，支持150mm×150mm樣品掃描與0.38μm橫向分辨率。其創(chuàng)新點在于“通用掃描干涉（USI）模式"——通過自適應(yīng)信號處理算法，自動優(yōu)化表面紋理分析參數(shù)，使粗糙度測量時間從10分鐘縮短至2分鐘。設(shè)備采用集成防震設(shè)計，振動隔離效果達(dá)98%，確保在普通實驗臺上的穩(wěn)定運行。

用材與參數(shù)
主體框架為高強度工程塑料，重量僅67kg，便于實驗室靈活部署。光學(xué)系統(tǒng)配備可調(diào)焦物鏡塔臺，支持2.5X至50X放大倍率切換，Z軸測量范圍0.1nm至2mm，臺階高度準(zhǔn)確性優(yōu)于0.75%。軟件方面，VisionXpress™界面提供超過千種定制分析模板，涵蓋ISO 4287、ASME B46.1等標(biāo)準(zhǔn)，用戶可通過拖拽式操作快速生成報告。

用途與使用說明
ContourX-200廣泛應(yīng)用于醫(yī)療設(shè)備表面磨損檢測、太陽能電池絨面結(jié)構(gòu)表征及摩擦學(xué)研究等領(lǐng)域。操作流程如下：

1. 樣品預(yù)處理：清潔表面并噴涂薄層顯影劑（針對低反射率樣品）；

2. 模式選擇：根據(jù)表面反射率（0.05%至100%）切換PSI（相移干涉）或VSI（垂直掃描干涉）模式；

3. 數(shù)據(jù)分析：利用Vision64®的“多區(qū)域提取"功能，同步獲取粗糙度、波紋度與形貌誤差數(shù)據(jù)。

典型案例
某眼科鏡片制造商通過ContourX-200的批量測量功能，實現(xiàn)了每日200片鏡片的非接觸式檢測，將人工目檢導(dǎo)致的漏檢率從5%降至0.2%，同時降低耗材成本40%。