舜宇顯微鏡科研與工業(yè)的“跨界組合"

在需要兼顧科研精度與工業(yè)效率的場(chǎng)景中，舜宇RX50M與MX4R通過(guò)功能互補(bǔ)，為用戶(hù)提供靈活的解決方案。

RX50M：科研的“深度探索者"

RX50M的U-DICR微分干涉組件與360°偏振系統(tǒng)，支持0.1μm級(jí)表面形貌測(cè)量。在半導(dǎo)體檢測(cè)中，用戶(hù)可利用其DIC模式檢測(cè)晶圓表面的納米級(jí)劃痕，同時(shí)通過(guò)偏振系統(tǒng)消除反射雜光，提升缺陷識(shí)別率。此外，RX50M的三檔分光比觀察筒支持同時(shí)連接攝像系統(tǒng)與目鏡，方便實(shí)時(shí)對(duì)比鏡下圖像與視頻數(shù)據(jù)。

MX4R：工業(yè)的“快速響應(yīng)者"

MX4R以“經(jīng)濟(jì)性與基礎(chǔ)功能"為核心，其6W LED環(huán)形照明與平場(chǎng)消色差物鏡可滿(mǎn)足金屬晶粒度分析、焊接缺陷檢測(cè)等基礎(chǔ)需求。在生產(chǎn)線(xiàn)抽檢中，用戶(hù)可在5秒內(nèi)完成一個(gè)零件的表面缺陷篩查，單日檢測(cè)量超800件。

參數(shù)對(duì)比：選擇適合的“角色"

用戶(hù)評(píng)價(jià)：從“實(shí)驗(yàn)室"到“車(chē)間"的認(rèn)可

深圳某半導(dǎo)體企業(yè)同時(shí)引入RX50M與MX4R，工程師評(píng)價(jià)稱(chēng)：“RX50M用于晶圓缺陷的深度分析，MX4R用于生產(chǎn)線(xiàn)的快速抽檢，兩者互補(bǔ)顯著提升了整體檢測(cè)效率。"目前，該組合方案已服務(wù)于多家高新技術(shù)企業(yè)，成為科研與工業(yè)檢測(cè)的“黃金搭檔"。

舜宇顯微鏡科研與工業(yè)的“跨界組合"