在材料分析、生命科學和工業(yè)檢測等領域，對樣品進行微米乃至納米級別的觀察是一項普遍需求。傳統的大型掃描電鏡雖性能出色，但成本高、操作復雜且對環(huán)境有要求。澤攸科技的ZEM18臺式掃描電子顯微鏡，提供了一種置于桌面的成像解決方案，讓微觀結構的日常觀察變得更為便捷。

ZEM18的設計理念在于緊湊集成與操作簡便。整機采用一體化設計，將電子光學系統、真空系統和控制系統集成于一個主機箱內，占地面積較小，可放置于標準實驗桌或工作臺上。其鏡體與樣品室采用金屬材料制造，保證了結構的穩(wěn)定性和真空密封性。光學鏡頭等核心部件經過專門設計，在緊湊空間內實現了電子束的發(fā)射、聚焦和掃描。

為了讓用戶對其核心指標有清晰認識，以下是ZEM18的主要參數概覽：

• •分辨率：在高真空模式下，分辨率可達數納米級別。

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• •放大倍數：范圍可從幾十倍至數萬倍，覆蓋從宏觀選取到微觀觀察的需求。

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• •加速電壓：通常在5kV至30kV范圍內可調，以適應不同導電性樣品的觀察。

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• •真空系統：采用分子泵與機械泵組合，抽真空時間較短。

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• •樣品室尺寸：可容納尺寸適中的樣品，樣品臺移動范圍滿足多數觀測需求。

ZEM18的用途廣泛，適用于多種場景的快速成像：

• •科研教育：可用于大學、研究所的日常教學和基礎科研，讓學生和研究人員便捷地接觸電鏡觀察。

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• •工業(yè)質檢：在半導體、PCB、金屬加工、粉末冶金等行業(yè)，用于產品的在線質量檢查與失效分析。

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• •材料研發(fā)：觀察納米材料、高分子、陶瓷等材料的表面形貌和微觀結構。

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• •生物醫(yī)學：觀察細胞、組織、生物礦物等樣品的表面結構（通常需進行噴金處理）。

使用ZEM18時，操作流程較為直觀。首先將樣品置于樣品樁上，放入樣品室并開始抽真空。待真空達到要求后，在軟件界面上選擇加速電壓和工作距離等參數，即可開始尋找視野。通過電腦軟件控制樣品臺的移動和電子束的掃描，可以方便地找到感興趣區(qū)域，并調整焦距和像散獲得清晰圖像。整個過程無需如大型電鏡般復雜的光路對齊等步驟。

總而言之，澤攸ZEM18臺式掃描電鏡是一款旨在降低使用門檻的微觀成像工具，為日常的微納觀測任務提供了一個桌面化的選擇。