澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用

產(chǎn)品簡介

澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用
澤攸?ZEM20 通過緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空、靈活的自動化功能以及完善的維護(hù)體系，為材料科學(xué)、能源、生命科學(xué)等多個領(lǐng)域提供了穩(wěn)定、可重復(fù)的微觀表征平臺。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-23

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用

應(yīng)用領(lǐng)域	典型樣品	推薦模式	關(guān)鍵設(shè)置
鋰電正極顆粒	NCM 粉末	BSE?+?低壓 (10?kV)	導(dǎo)電膠、工作距離 ≈?8?mm
金屬粉末	316L 粉末	SE?+?拼圖 (15?kV)	5?×?5 陣列，Z 步進(jìn) 60?µm
生物濾膜	聚碳酸酯核孔膜	SE?+?低壓 (3?kV)	5?nm 金層鍍膜，工作距離 ≈?5?mm
元素分析 (EDS)	Cu?Zn 合金	BSE?+?EDS (7?15?kV)	SDD 探測器，計(jì)數(shù)率 30?kcps，能量分辨率 ≤?129?eV

鋰電顆粒：10?kV、50?pA 條件下，BSE 成像可分辨 30?nm 裂紋，低壓模式避免充電。
金屬粉末：利用 5?×?5 拼圖功能，自動 Z 軸移動 60?µm，得到大景深全景圖，孔洞對比度 >?0.3，便于孔隙率統(tǒng)計(jì)。
生物濾膜：5?nm 金層抑制充電，3?kV 低壓下孔徑 200?nm 清晰可見，適合細(xì)胞捕獲后計(jì)數(shù)。
EDS：配備 30?mm2 SDD 探測器，Mn?Kα 能量分辨率 129?eV（計(jì)數(shù)率 50?kcps），可實(shí)現(xiàn) B?C?N?O 輕元素的定量分析。

結(jié)語
澤攸?ZEM20 通過緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空、靈活的自動化功能以及完善的維護(hù)體系，為材料科學(xué)、能源、生命科學(xué)等多個領(lǐng)域提供了穩(wěn)定、可重復(fù)的微觀表征平臺。以上六篇推廣文章從硬件構(gòu)成、成像性能、材料工藝、操作指南、環(huán)境要求到典型應(yīng)用，系統(tǒng)展示了 ZEM20 的技術(shù)優(yōu)勢與實(shí)際價值，幫助實(shí)驗(yàn)室快速評估并實(shí)現(xiàn)采購與使用。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用

上一個：澤攸ZEM20掃描顯微鏡的環(huán)境適配