INSTEC真空高溫探針臺參數(shù)與用材剖析

產品簡介

INSTEC真空高溫探針臺參數(shù)與用材剖析
INSTECH P1000V-MPS 真空高溫探針臺，作為面向材料檢測與電子元件測試的專業(yè)設備，其參數(shù)配置與用材選擇直接關系到設備在復雜環(huán)境下的運行穩(wěn)定性，是用戶了解設備核心能力的關鍵。

產品型號：P1000V MPS

更新時間：2025-10-23

廠商性質：代理商

訪問量：141

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INSTEC真空高溫探針臺參數(shù)與用材剖析

INSTECH P1000V-MPS 真空高溫探針臺，作為面向材料檢測與電子元件測試的專業(yè)設備，其參數(shù)配置與用材選擇直接關系到設備在復雜環(huán)境下的運行穩(wěn)定性，是用戶了解設備核心能力的關鍵。

核心參數(shù)方面，該探針臺的溫度控制范圍覆蓋高溫需求，最高工作溫度可達到數(shù)百攝氏度，能滿足多數(shù)耐高溫材料、半導體元件在高溫環(huán)境下的性能測試；低溫段雖未側重設計，但常規(guī)室溫至高溫區(qū)間的溫度調節(jié)流暢，溫度控制波動可維持在一定范圍內，保障測試過程中溫度環(huán)境的一致性。真空系統(tǒng)性能是其核心優(yōu)勢之一，極限真空度可達到特定數(shù)值，且真空維持能力穩(wěn)定，從常壓抽至目標真空度的時間處于合理區(qū)間，能為樣品測試提供低氣壓環(huán)境，減少空氣成分對測試結果的干擾。

探針相關參數(shù)同樣適配專業(yè)測試需求，支持多組探針同步工作，探針間距可通過調節(jié)機構精準調整，適配不同尺寸的芯片、元器件引腳布局；探針的針尖直徑較小，能減少與樣品接觸時的面積，降低對樣品表面的損傷，同時保障電信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性。樣品臺尺寸設計兼顧實用性與兼容性，可容納常規(guī)規(guī)格的測試樣品，且支持定制化樣品臺，滿足特殊尺寸、形狀樣品的固定與測試需求。

用材選擇上，P1000V-MPS 的關鍵部件經過針對性篩選。樣品臺采用耐高溫且導熱均勻的合金材質，這種材質在高溫環(huán)境下不易變形，能快速且均勻地傳遞熱量，確保樣品各區(qū)域溫度一致，減少因局部溫差導致的測試誤差；同時，合金材質具備一定的耐腐蝕性，可應對部分測試環(huán)境中的輕微化學影響。探針選用高硬度、高導電性的金屬合金，既保證了針尖在長期使用中不易磨損，又能降低電信號傳輸過程中的損耗，維持測試數(shù)據的準確性。

設備的真空腔體采用密封性優(yōu)良的不銹鋼材質，不銹鋼不僅耐高溫、耐氧化，還能有效保障真空環(huán)境的穩(wěn)定性，減少氣體泄漏；腔體內部的密封件選用耐高溫真空密封材料，在高溫與真空雙重環(huán)境下仍能保持良好的密封性能，延長真空系統(tǒng)的維護周期。設備外殼則采用隔熱且絕緣的復合材料，既能隔絕內部高溫對外部環(huán)境的影響，防止操作人員意外接觸燙傷，又能避免外部電磁信號對內部測試電路的干擾，提升測試數(shù)據的可靠性。

此外，設備內部的溫控電路組件選用耐高溫電子元件，確保在高溫工作狀態(tài)下電路系統(tǒng)穩(wěn)定運行；真空管路采用耐腐蝕、低漏氣率的管材，減少真空系統(tǒng)的維護頻率。這些參數(shù)與用材的協(xié)同搭配，讓 P1000V-MPS 在真空高溫的復雜測試環(huán)境中具備可靠性能，為用戶提供穩(wěn)定的測試平臺。

INSTEC真空高溫探針臺參數(shù)與用材剖析

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