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Sensofar S neox:多技術(shù)融合的測量新體驗 在微觀測量領(lǐng)域,單一技術(shù)往往難以應(yīng)對復(fù)雜多樣的測量需求。Sensofar 推出的新型共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox,憑借共聚焦、干涉與多焦面疊加技術(shù)的融合應(yīng)用,為用戶帶來了更為全面的測量解決方案。
Sensofar S neox:多樣場景的得力測量助手 在眾多需要對微觀尺度進行精確測量的領(lǐng)域,Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox 以其出色的表現(xiàn)嶄露頭角。無論是精密制造車間,還是半導(dǎo)體封裝實驗室,亦或是光學(xué)元件加工場所,它都能成為把控產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備。
布魯克輪廓儀:精密模具檢測的實用設(shè)備 材料科學(xué)研究中,深入了解材料表面的微觀形貌、粗糙度與結(jié)構(gòu)特征,對探究材料性能至關(guān)重要。布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 憑借非接觸式測量優(yōu)勢與精細的數(shù)據(jù)分析能力,成為材料表面研究的實用設(shè)備。
布魯克輪廓儀:材料表面分析的得力工具 材料科學(xué)研究中,深入了解材料表面的微觀形貌、粗糙度與結(jié)構(gòu)特征,對探究材料性能至關(guān)重要。布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 憑借非接觸式測量優(yōu)勢與精細的數(shù)據(jù)分析能力,成為材料表面研究的實用設(shè)備。
布魯克輪廓儀:電子元件檢測的可靠伙伴 在電子元件生產(chǎn)領(lǐng)域,精準把握產(chǎn)品表面形態(tài)與尺寸參數(shù),是保障產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 憑借優(yōu)良的光學(xué)測量技術(shù)與穩(wěn)定的性能表現(xiàn),成為電子元件檢測環(huán)節(jié)的實用工具。
布魯克輪廓儀實驗室與車間的“橋梁型設(shè)備” 在追求高效生產(chǎn)的今天,表面形貌測量需兼顧研發(fā)階段的深度分析與量產(chǎn)環(huán)節(jié)的快速質(zhì)檢。布魯克ContourX-200三維光學(xué)輪廓儀以“平衡性能與靈活性”為設(shè)計理念,通過模塊化硬件、智能化軟件與穩(wěn)定結(jié)構(gòu),為不同場景提供了一款可定制化的表面計量解決方案。
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