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Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21
產(chǎn)品型號：S neox
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Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態(tài)測量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21產(chǎn)品型號：S neox瀏覽量：220Sensofar：專注工業(yè)，高效檢測 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21產(chǎn)品型號：S neox瀏覽量：212
Sensofar 輪廓儀：微觀檢測好幫手 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21產(chǎn)品型號：S neox瀏覽量：185
BEUKER光學輪廓儀：高效表面分析方案? BEUKER白光干涉光學輪廓儀提供穩(wěn)定的表面形貌測量方案，適用于科研與工業(yè)檢測。其模塊化設(shè)計支持多種測量需求，操作簡便，數(shù)據(jù)可靠
更新時間：2025-10-21產(chǎn)品型號：瀏覽量：243
BEUKER白光干涉儀：表面測量的可靠工具? BEUKER白光干涉光學輪廓儀采用非接觸式測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析。其光學系統(tǒng)基于白光干涉原理，可清晰呈現(xiàn)樣品表面的三維形貌，適用于半導體、光學元件、精密加工等領(lǐng)域。
更新時間：2025-10-21產(chǎn)品型號：瀏覽量：218
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