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詳解布魯克ContourX輪廓儀系列核心技術(shù) 布魯克ContourX系列三維光學(xué)輪廓儀的測量能力，源于其核心的白光干涉技術(shù)（WLI）和穩(wěn)健的機械設(shè)計。理解這些技術(shù)細節(jié)，有助于用戶更好地發(fā)揮儀器的潛能。

布魯克ContourX輪廓儀：專注高效小樣品檢測 在對于專注于微型器件、材料小樣片或需要進行高通量測量的用戶而言，儀器的緊湊性和測量效率顯得尤為重要。布魯克ContourX-100三維光學(xué)輪廓儀正是針對這類應(yīng)用場景優(yōu)化設(shè)計的經(jīng)濟型產(chǎn)品。

布魯克ContourX輪廓儀：平衡性能與靈活性 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測環(huán)節(jié)，對測量設(shè)備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀正是為滿足此類需求而設(shè)計。

布魯克ContourX輪廓儀：應(yīng)對大尺寸樣品測量 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測環(huán)節(jié)，對測量設(shè)備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀正是為滿足此類需求而設(shè)計。

認識布魯克ContourX系列輪廓儀 布魯克公司的ContourX系列三維光學(xué)輪廓儀，涵蓋了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三種型號，為不同領(lǐng)域的表面三維形貌測量提供了多樣的選擇。這個系列的產(chǎn)品基于白光干涉技術(shù)（也稱垂直掃描干涉術(shù)），通過非接觸的方式，能夠?qū)某饣较喈?dāng)粗糙的表面進行三維形貌測量和量化分析。

Sensofar S neox：半導(dǎo)體封裝檢測精密工具 在半導(dǎo)體封裝制造、微型電子元件檢測、射頻器件研發(fā)等精密電子領(lǐng)域，對芯片鍵合線、封裝膠體、引腳等微觀結(jié)構(gòu)的 3D 輪廓測量要求嚴(yán)苛，Sensofar 新型共聚焦白光干涉輪廓儀 S neox 憑借高分辨率測量能力與半導(dǎo)體行業(yè)適配設(shè)計，成為封裝質(zhì)量把控的實用工具，助力企業(yè)提升半導(dǎo)體產(chǎn)品的可靠性與良率。