布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選
在微觀測量的廣闊天地里，布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學輪廓儀憑借其魅力，吸引著眾多科研人員與工業(yè)生產(chǎn)者的目光，為他們的工作帶來高效與精準。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-08-20

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：75

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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在微觀測量的廣闊天地里，布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學輪廓儀憑借其魅力，吸引著眾多科研人員與工業(yè)生產(chǎn)者的目光，為他們的工作帶來高效與精準。布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選

產(chǎn)品細節(jié)：緊湊外觀，便捷操作

ContourX - 500 采用緊湊的桌面式設計，不占過多空間，特別適合實驗室空間有限的環(huán)境。操作界面簡潔直觀，各類功能按鈕一目了然，新手也能快速熟悉操作流程。樣品臺設計巧妙，具備高精度的移動和定位功能，可靈活調(diào)整樣品位置，確保測量區(qū)域準確無誤。設備配備的 5MP 攝像頭及 1200x1000 測量陣列，有效降低噪聲，提升橫向分辨率，讓微小細節(jié)清晰呈現(xiàn)。

產(chǎn)品性能：多元技術(shù)，出色表現(xiàn)

這款輪廓儀融合了*的白光干涉技術(shù)與精密光學系統(tǒng)。白光干涉技術(shù)通過分析不同波長光干涉產(chǎn)生的條紋，精準識別樣品表面微觀起伏。測量過程中，設備運行穩(wěn)定，受外界環(huán)境干擾影響小，保障測量結(jié)果的穩(wěn)定性與一致性。它擁有出色的 Z 軸分辨率和準確度，可在多種復雜表面上獲取高質(zhì)量測量數(shù)據(jù)。測量范圍靈活，能根據(jù)樣品需求調(diào)整參數(shù)，無論是對大面積區(qū)域進行快速掃描，還是針對微小局部進行精細測量，都能輕松勝任。

用材講究：優(yōu)質(zhì)選材，耐用可靠

布魯克在 ContourX - 500 的選材上嚴格把關。核心光學部件采用高品質(zhì)光學玻璃，具備出色的透光性和低色散特性，減少光線傳播中的能量損失與圖像畸變，保證測量成像清晰準確。內(nèi)部機械結(jié)構(gòu)選用高強度、耐磨的金屬材料，如傳動部件采用優(yōu)質(zhì)合金鋼，確保長期高頻使用下，依然維持精確的運動精度和良好的機械性能，延長設備使用壽命，降低維護成本。設備外殼堅固且抗腐蝕，有效保護內(nèi)部精密部件，適應多樣的使用環(huán)境。

參數(shù)詳情

參數(shù)項	具體數(shù)值
垂直分辨率	可滿足高要求微觀測量
測量范圍	橫向和縱向可根據(jù)需求靈活調(diào)整，適應不同尺寸樣品
攝像頭規(guī)格	5MP，搭配 1200x1000 測量陣列
樣品臺特性	高精度移動與定位
光學頭特性	設計優(yōu)化，利于測量

廣泛用途

在半導體工藝的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）計量中，ContourX - 500 可精確測量晶圓表面的平整度、刻蝕圖案的深度與寬度等參數(shù)，助力提升芯片制造質(zhì)量。在眼科領域，能對隱形眼鏡等光學器件的表面形貌進行檢測，確保產(chǎn)品符合光學性能標準。對于微機電系統(tǒng)（MEMS）器件的研發(fā)表征，該輪廓儀可清晰呈現(xiàn)微小結(jié)構(gòu)的表面特征，為器件性能優(yōu)化提供關鍵數(shù)據(jù)支持。憑借精巧的設計、可靠的性能與豐富的功能，布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學輪廓儀成為桌面級微觀測量的理想選擇，為各行業(yè)的精密測量工作注入強大動力。布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選

上一個：布魯克白光干涉輪廓儀微觀世界的測量伙伴