布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量
在科研探索與工業(yè)生產(chǎn)對高精度測量需求日益增長的當(dāng)下，布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學(xué)輪廓儀以其設(shè)計(jì)與強(qiáng)大性能，成為落地式測量設(shè)備中的，為眾多領(lǐng)域帶來全新的測量體驗(yàn)。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2026-01-04

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：367

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 對刀具切削刃的評估

Sensofar共聚焦白光干涉儀光譜反射技術(shù)

全面了解白光干涉儀的測試與應(yīng)用

Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀：刻蝕剖面測量的革新利器

詳細(xì)介紹在線留言

在科研探索與工業(yè)生產(chǎn)對高精度測量需求日益增長的當(dāng)下，布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學(xué)輪廓儀以其設(shè)計(jì)與強(qiáng)大性能，成為落地式測量設(shè)備中的，為眾多領(lǐng)域帶來全新的測量體驗(yàn)。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量

產(chǎn)品細(xì)節(jié)：穩(wěn)固設(shè)計(jì)，智能操作

ContourX - 1000 采用落地式結(jié)構(gòu)，機(jī)身穩(wěn)固，能有效抵抗外界振動(dòng)干擾。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學(xué)頭，雙光源、自動(dòng)化的物鏡轉(zhuǎn)盤和樣品臺(tái)，以及可選配的晶圓卡盤。這種創(chuàng)新設(shè)計(jì)為各種復(fù)雜應(yīng)用提供了極大便利，對于有難度的表面和深溝槽結(jié)構(gòu)也能輕松應(yīng)對。操作界面配備簡潔且有引導(dǎo)性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人員的使用難度，即使經(jīng)驗(yàn)不足也能快速上手，輕松完成測量工作。全新的一鍵式高級(jí)尋找表面（Advanced Find Surface ™）功能結(jié)合自動(dòng)聚焦和自動(dòng)照明功能，無需每次測量前手動(dòng)查找樣品表面，極大提升了用戶體驗(yàn)且縮短測量時(shí)間。

產(chǎn)品性能：*技術(shù)，高效穩(wěn)定

該輪廓儀融合了*的白光干涉技術(shù)與自動(dòng)化功能。白光干涉技術(shù)精準(zhǔn)測量表面微觀形貌，自動(dòng)化功能則大幅提高測量效率。設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定，配備專屬的內(nèi)部參考激光和防震臺(tái)，即便在嘈雜環(huán)境中，也能確保測量性能不受影響，提供可靠的測量結(jié)果。全局掃描干涉（USI）自適應(yīng)測量模式可自動(dòng)確定測量參數(shù)，在幾十微米尺度內(nèi)也能確保納米級(jí)分辨率，無論是對光滑表面還是粗糙表面，都能實(shí)現(xiàn)高精度測量。

用材講究：堅(jiān)固耐用，品質(zhì)保障

ContourX - 1000 的選材注重堅(jiān)固耐用與性能穩(wěn)定。光學(xué)部件采用高品質(zhì)材料，確保成像清晰、測量準(zhǔn)確。機(jī)械結(jié)構(gòu)選用高強(qiáng)度金屬，保證設(shè)備在長期使用中，維持精準(zhǔn)的運(yùn)動(dòng)精度。設(shè)備整體架構(gòu)設(shè)計(jì)穩(wěn)固，有效抵抗外界干擾，適應(yīng)工業(yè)生產(chǎn)車間等復(fù)雜環(huán)境，保障設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行與長期使用。

參數(shù)詳情

參數(shù)項(xiàng)	具體數(shù)值
測量模式	具備全局掃描干涉（USI）自適應(yīng)測量模式
自動(dòng)功能	自動(dòng)對焦、自動(dòng)照明、自動(dòng)強(qiáng)度調(diào)整、自動(dòng)保存、自動(dòng)拼接等
光學(xué)頭特性	可傾斜 / 俯仰，優(yōu)化圖像采集
防震設(shè)計(jì)	集成防震臺(tái)，減少外界振動(dòng)影響
測量重復(fù)性	表現(xiàn)優(yōu)秀，結(jié)果可靠

廣泛用途

在材料研發(fā)中，可用于分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)、涂層厚度均勻性等，為新材料的開發(fā)與性能優(yōu)化提供重要依據(jù)。在半導(dǎo)體制造環(huán)節(jié)，能精確檢測芯片表面的平整度、缺陷等，保障芯片制造的良品率。在汽車零部件制造、醫(yī)療器械生產(chǎn)等行業(yè)，對于零部件表面粗糙度、紋理的測量，有助于提升產(chǎn)品質(zhì)量，確保產(chǎn)品性能符合標(biāo)準(zhǔn)。布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學(xué)輪廓儀憑借創(chuàng)新設(shè)計(jì)、強(qiáng)大性能與廣泛適用性，成為落地式測量設(shè)備中的革新力量，助力各行業(yè)在精密測量領(lǐng)域不斷突破，邁向新的高度。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量

上一個(gè)：布魯克白光干涉輪廓儀桌面級(jí)測量的得力之選