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臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析
澤攸臺(tái)式掃描電鏡
高分辨成像:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹
高分辨成像:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹對(duì)于尋求高分辨成像能力的用戶,澤攸電鏡的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡將高性能融入小巧的機(jī)身中。該產(chǎn)品減少了用戶對(duì)大型設(shè)備空間的依賴。
產(chǎn)品分類
澤攸透射電鏡 對(duì)于尋求高分辨成像能力的用戶,澤攸電鏡的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡將高性能融入小巧的機(jī)身中。該產(chǎn)品減少了用戶對(duì)大型設(shè)備空間的依賴。高分辨成像:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹
產(chǎn)品細(xì)節(jié)與用材:
ZEM系列采用陶瓷真空腔體和高穩(wěn)定性電子光學(xué)系統(tǒng),旨在減少熱漂移現(xiàn)象。關(guān)鍵部件如樣品臺(tái)采用步進(jìn)電機(jī),移動(dòng)重復(fù)性有所表現(xiàn)。
核心參數(shù)(ZEM 15例):
分辨率:3.0nm @30kV (SE)
放大倍數(shù):5x - 300,000x
加速電壓:1kV - 30kV
探測(cè)器:可伸縮式二次電子探測(cè)器
用途:
廣泛應(yīng)用于高校教學(xué)、工業(yè)領(lǐng)域的質(zhì)量檢測(cè)、失效分析以及科研機(jī)構(gòu)的日常研究工作。
使用簡(jiǎn)述:
操作流程簡(jiǎn)化,從放入樣品到獲得圖像通常只需幾分鐘。觸摸屏界面方便進(jìn)行主要參數(shù)調(diào)節(jié)和圖像采集。
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