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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar S neox:科研與工業(yè)通用測量語言
Sensofar S neox:科研與工業(yè)通用測量語言從量子點(diǎn)薄膜到航空發(fā)動機(jī)葉片,從活細(xì)胞培養(yǎng)到古生物化石,表面形貌測量的需求正跨越學(xué)科與行業(yè)邊界。Sensofar S neox通過標(biāo)準(zhǔn)化測量流程與開放式軟件架構(gòu),成為連接微觀世界與宏觀應(yīng)用的橋梁。
從量子點(diǎn)薄膜到航空發(fā)動機(jī)葉片,從活細(xì)胞培養(yǎng)到古生物化石,表面形貌測量的需求正跨越學(xué)科與行業(yè)邊界。Sensofar S neox通過標(biāo)準(zhǔn)化測量流程與開放式軟件架構(gòu),成為連接微觀世界與宏觀應(yīng)用的橋梁。
S neox的測量范圍覆蓋納米至米級:在納米尺度,其白光干涉模式可檢測50μm直徑的鈍化層孔徑誤差;在毫米尺度,多焦面疊加模式能快速拼接150mm×150mm的太陽能電池板表面;在米級尺度,五軸款配合12英寸自動晶圓臺,可完成汽車車身涂層的全局粗糙度分析。這種跨尺度能力源于其智能拼接算法——通過特征點(diǎn)匹配技術(shù),將多個(gè)視場的數(shù)據(jù)誤差控制在0.5μm以內(nèi)。
SensoSCAN 7軟件平臺提供三級分析功能:基礎(chǔ)層支持ISO標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)計(jì)算,如Sa(算術(shù)平均高度)、Sq(均方根高度);進(jìn)階層集成紋理方向性分析與功率譜密度計(jì)算,適用于摩擦學(xué)研究;頂層則嵌入SensoMAP機(jī)器學(xué)習(xí)模塊,可自動識別表面缺陷類型。在某存儲芯片失效分析案例中,S neox通過相移干涉模式在非破壞條件下清晰呈現(xiàn)20μm焊球下方的微裂紋,SensoMAP模塊進(jìn)一步將裂紋擴(kuò)展速率與電遷移數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián),為工藝改進(jìn)提供量化依據(jù)。
基礎(chǔ)款S neox適合科研機(jī)構(gòu)與中小型制造企業(yè),其6位電動鼻輪可快速切換物鏡,滿足多任務(wù)測量需求;五軸款則面向航空航天、新能源汽車等大型部件檢測場景,其旋轉(zhuǎn)臺承載能力達(dá)50kg,重復(fù)定位精度±0.005°。用戶可根據(jù)預(yù)算與測量對象選擇配置:例如,生物醫(yī)學(xué)實(shí)驗(yàn)室可加裝活細(xì)胞培養(yǎng)觀測系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)表面形貌與細(xì)胞行為的同步監(jiān)測;半導(dǎo)體工廠則需選配SECS/GEM接口,以集成至自動化生產(chǎn)線。
為設(shè)備性能,建議每日開機(jī)后進(jìn)行光源校準(zhǔn)(使用NPL認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)塊),每月清潔物鏡組(使用專用鏡頭紙與乙醇溶液)。在測量高反射率樣品時(shí),可啟用軟件中的動態(tài)光圈調(diào)節(jié)功能,將反射光強(qiáng)度降低至30%以下以避免過曝;對于透明薄膜,則需切換至405nm紫光光源以提高干涉對比度。Sensofar提供整機(jī)質(zhì)保1年服務(wù),包括安裝調(diào)試、現(xiàn)場培訓(xùn)與24小時(shí)內(nèi)電話支持。
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