3D光學(xué)輪廓儀S neox的技術(shù)融合之道

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3D光學(xué)輪廓儀S neox的技術(shù)融合之道；Sensofar S neox通過(guò)集成共聚焦、干涉與白光干涉三種技術(shù)，可根據(jù)樣品特性智能切換測(cè)量模式，實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜表面的精準(zhǔn)、高效三維分析，滿足多領(lǐng)域檢測(cè)需求。

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更新時(shí)間：2025-11-24

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三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測(cè)量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀：刻蝕剖面測(cè)量的革新利器

產(chǎn)品資訊 | SENSOFAR SensoCOMP發(fā)布：為復(fù)雜3D檢測(cè)任務(wù)帶來(lái)清晰指引

白光干涉儀S neox：微透鏡陣列表征的精密利器

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3D光學(xué)輪廓儀S neox的技術(shù)融合之道

在現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)與科學(xué)研究中，材料表面的三維形貌測(cè)量需求日益多樣化。面對(duì)不同特性的樣品，單一測(cè)量技術(shù)往往難以兼顧所有需求。Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀通過(guò)將共聚焦顯微鏡、干涉顯微鏡與白光干涉技術(shù)集成于同一平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了多技術(shù)協(xié)同工作的創(chuàng)新方案。這種設(shè)計(jì)思路使儀器能夠根據(jù)樣品特性智能選擇的測(cè)量模式，為用戶提供了更全面的表面分析能力。

在實(shí)際應(yīng)用中，技術(shù)人員可能會(huì)遇到各種復(fù)雜的測(cè)量場(chǎng)景。例如，同一個(gè)樣品可能同時(shí)包含光滑區(qū)域和粗糙區(qū)域，或兼具高反射和低反射特性。S neox的多技術(shù)平臺(tái)允許用戶在一次測(cè)量過(guò)程中靈活切換不同的測(cè)量模式。對(duì)于需要高垂直分辨率的超光滑表面，可以選擇白光干涉模式；而對(duì)于具有陡峭側(cè)壁或較高粗糙度的區(qū)域，則可切換到共聚焦模式。這種靈活性顯著提升了測(cè)量效率，避免了傳統(tǒng)方式中需要更換設(shè)備或重新定位的繁瑣流程。

儀器配備的智能軟件系統(tǒng)進(jìn)一步增強(qiáng)了其易用性。系統(tǒng)能夠根據(jù)實(shí)時(shí)采集的樣品圖像特征，自動(dòng)推薦合適的測(cè)量參數(shù)和模式。例如，當(dāng)檢測(cè)到表面反射率較高時(shí)，軟件會(huì)建議啟用光強(qiáng)自動(dòng)調(diào)節(jié)功能；當(dāng)識(shí)別到復(fù)雜三維結(jié)構(gòu)時(shí)，可能會(huì)推薦使用共聚焦掃描模式。這種智能輔助功能降低了操作門檻，使初級(jí)用戶也能快速獲得可靠的測(cè)量結(jié)果。

在數(shù)據(jù)處理方面，S neox提供了豐富的分析工具。用戶不僅可以獲得常規(guī)的二維粗糙度參數(shù)，還能進(jìn)行三維形貌的重建與分析。軟件支持多種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的參數(shù)計(jì)算，同時(shí)允許用戶根據(jù)特定需求定制分析流程。例如，在摩擦學(xué)研究中，可以計(jì)算表面的支承率曲線；在密封件檢測(cè)中，能夠分析接觸面的密封性能。

此外，儀器的模塊化設(shè)計(jì)為其應(yīng)用拓展提供了可能。用戶可以根據(jù)實(shí)際需求選配不同的物鏡、照明系統(tǒng)或環(huán)境控制裝置。這種設(shè)計(jì)理念使S neox能夠適應(yīng)從實(shí)驗(yàn)室研究到工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的多種場(chǎng)景，為材料科學(xué)、微電子、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的表面分析提供了可靠的工具。

3D光學(xué)輪廓儀S neox的技術(shù)融合之道

上一個(gè)：3D光學(xué)輪廓儀S neox的工業(yè)檢測(cè)適應(yīng)性