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白光干涉儀S neox的微流體芯片檢測:Sensofar S neox可對微流道進行非接觸三維測量，精確量化通道尺寸、深度、粗糙度及層間對準，為芯片性能優(yōu)化與工藝控制提供關鍵數(shù)據(jù)。
更新時間：2025-11-18
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白光干涉儀S neox的遠程操作支持:Sensofar S neox支持遠程操作與診斷，授權下技術工程師可實時接入，快速定位并解決軟硬件問題，顯著提升支持效率并減少停機時間。
更新時間：2025-11-18產品型號：瀏覽量：67白光干涉儀S neox的濾光片測量:Sensofar S neox可對光學濾光片基板及成品進行非接觸測量，精確量化表面平整度、粗糙度與微缺陷，確保其光譜性能與鍍膜質量。
更新時間：2025-11-18產品型號：瀏覽量：63白光干涉儀S neox的摩擦學應用:Sensofar S neox通過三維形貌測量與摩擦學功能參數(shù)分析（如支承率、磨損體積），為表面摩擦、磨損及潤滑性能研究提供定量化數(shù)據(jù)支持。
更新時間：2025-11-18產品型號：瀏覽量：59白光干涉儀S neox的微透鏡陣列表征:Sensofar S neox可對微透鏡陣列進行高精度三維形貌測量，精確量化面形、曲率、矢高及陣列均勻性，為光學性能評估與工藝優(yōu)化提供關鍵數(shù)據(jù)支撐。
更新時間：2025-11-18產品型號：瀏覽量：70白光干涉儀S neox的在線檢測潛力：Sensofar S neox憑借快速測量、高可靠性及標準通信接口，可無縫集成于智能產線，實現(xiàn)自動化在線檢測與實時工藝控制，滿足工業(yè)4.0質量監(jiān)控需求。
更新時間：2025-11-18產品型號：瀏覽量：60
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