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Sensofar多模式切換：全表面測量的實現(xiàn)路徑 Sensofar S neox 通過共聚焦、干涉、多焦面疊加技術(shù)的無縫切換，實現(xiàn)了從亞納米級光滑表面到毫米級粗糙結(jié)構(gòu)的全范圍測量覆蓋。

Sensofar環(huán)境適配性：擺脫實驗室限制的設(shè)計 Sensofar S neox 通過結(jié)構(gòu)優(yōu)化與算法創(chuàng)新，大幅提升了環(huán)境適配能力，打破傳統(tǒng)干涉儀對嚴苛使用條件的依賴。

Sensofar干涉技術(shù)：從原理到場景應(yīng)用 干涉技術(shù)是 Sensofar S neox 實現(xiàn)高精度測量的核心支撐，包含白光干涉與相位移干涉兩種模式，結(jié)合創(chuàng)新設(shè)計適配多樣測量需求。

Sensofar科研版：納米材料研究的適配設(shè)計 針對科研場景需求，Sensofar S neox 推出科研定制款，在基礎(chǔ)款之上強化了參數(shù)精度、功能擴展性與數(shù)據(jù)追溯能力。

Sensofar操作指南：從入門到批量檢測 Sensofar S neox 通過軟硬件協(xié)同設(shè)計，降低了精密測量的操作門檻，同時滿足專業(yè)用戶的深度需求。

Sensofar：用材解析：穩(wěn)定測量的基礎(chǔ)保障 Sensofar S neox 的性能穩(wěn)定性，源于核心部件的優(yōu)質(zhì)選材與精密設(shè)計。從光學(xué)元件到機械結(jié)構(gòu)，每類材料均針對高精度測量需求定制。