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Sensofar S?neox共聚焦白光干涉儀概覽 Sensofar?S?neox 是一款集共聚焦、白光干涉和多焦面疊加三種測量模式于一體的三維光學(xué)輪廓儀，適用于實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線的表面形貌檢測。

Sensofar 光學(xué)輪廓儀 ：延長設(shè)備使用壽命 S neox 的各項(xiàng)參數(shù)不僅是設(shè)備性能的體現(xiàn)，更與實(shí)際測量需求緊密相關(guān)，理解參數(shù)含義能幫助用戶更好地選擇測量模式與設(shè)置參數(shù)。

Sensofar 光學(xué)輪廓儀 ：理解數(shù)據(jù)背后的意義 S neox 的各項(xiàng)參數(shù)不僅是設(shè)備性能的體現(xiàn)，更與實(shí)際測量需求緊密相關(guān)，理解參數(shù)含義能幫助用戶更好地選擇測量模式與設(shè)置參數(shù)。

Sensofar 光學(xué)輪廓儀 ：應(yīng)對復(fù)雜測量需求 S neox 憑借靈活的配置與穩(wěn)定的性能，能應(yīng)對多種復(fù)雜測量場景，為特殊樣品與環(huán)境下的檢測提供支持。

Sensofar 光學(xué)輪廓儀 ：耐用性與精度的保障 S neox 在硬件材質(zhì)選擇與工藝處理上，充分考慮設(shè)備長期使用的穩(wěn)定性與測量精度保持。

Sensofar 輪廓儀 ：解鎖粗糙度測量更多可能 在微型電子元件制造領(lǐng)域，如微型傳感器、微型連接器、芯片封裝元件等，其尺寸通常以微米為單位，表面質(zhì)量與尺寸精度直接決定元件的電氣性能與裝配兼容性。哪怕是幾微米的尺寸偏差或細(xì)微劃痕，都可能導(dǎo)致元件無法正常工作或裝配失效。