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BEUKER白光干涉儀：表面形貌測(cè)量新選擇 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀采用非接觸式測(cè)量技術(shù)，適用于微納米級(jí)表面形貌分析。其核心部件采用高質(zhì)量光學(xué)鏡頭和穩(wěn)定光源系統(tǒng)，確保測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。

Bruker白光干涉儀高效非接觸式表面測(cè)量工具 Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款優(yōu)良的三維光學(xué)表面輪廓儀，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用白光干涉技術(shù)，通過測(cè)量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測(cè)量方式避免了對(duì)樣品的物理損傷，適用于多種材料和復(fù)雜表面的測(cè)量。

Bruker白光干涉儀：表面測(cè)量解決方案 Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款優(yōu)良的三維光學(xué)表面輪廓儀，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用白光干涉技術(shù)，通過測(cè)量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測(cè)量方式避免了對(duì)樣品的物理損傷，適用于多種材料和復(fù)雜表面的測(cè)量。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀微納檢測(cè)觸手可及。布魯克Contour X系列以“高適應(yīng)性、易操作、低維護(hù)”為核心設(shè)計(jì)理念，幫助用戶將微納檢測(cè)從專業(yè)實(shí)驗(yàn)室延伸至量產(chǎn)產(chǎn)線，為智能制造提供可靠的質(zhì)量控制手段。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀形貌測(cè)量新維度布魯克Contour X系列白光干涉光學(xué)輪廓儀，以光學(xué)干涉技術(shù)為核心，通過非接觸式測(cè)量實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm，橫向采樣密度達(dá)640×480點(diǎn)/次，可在5-20秒內(nèi)完成單次掃描，兼顧效率與精度。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀落地式全能選手 ContourX - 1000 采用落地式設(shè)計(jì)，機(jī)身穩(wěn)固。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學(xué)頭，雙光源、自動(dòng)化的物鏡轉(zhuǎn)盤和樣品臺(tái)，以及可選配的晶圓卡盤 。這種創(chuàng)新設(shè)計(jì)為各種復(fù)雜應(yīng)用提供了極大便利，對(duì)于有難度的表面和深溝槽結(jié)構(gòu)也能輕松應(yīng)對(duì)。操作界面配備簡(jiǎn)潔且有引導(dǎo)性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人員的使用難度，即使經(jīng)驗(yàn)不足也能快速