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Sensofar S wide：難測樣品也能輕松應(yīng)對 在光學(xué)行業(yè)檢測透明樣品（如大尺寸玻璃蓋板、光學(xué)鏡片、透明薄膜）時，傳統(tǒng)設(shè)備常因表面反光導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真，而 Sensofar S wide 通過專屬光學(xué)設(shè)計，能輕松應(yīng)對這類難題，無需額外加裝復(fù)雜附件。

Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測量儀 在檢測大尺寸樣品（如電路板、光學(xué)鏡片、模具型腔）時，傳統(tǒng) 3D 輪廓儀常因視野有限，需要多次掃描后拼接數(shù)據(jù)，不僅耗時久，還可能因拼接偏差影響結(jié)果準(zhǔn)確性。

Sensofar在半導(dǎo)體晶圓薄膜厚度測量中的應(yīng)用 Sensofar?S?neox 通過 4?in?1 光學(xué)技術(shù)（共聚焦、白光干涉、多焦面疊加、光譜反射）實現(xiàn)對晶圓薄膜的非接觸、亞納米級厚度測量。以下從測量原理、典型案例、操作流程、數(shù)據(jù)輸出四個維度展開說明。

Sensofar光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件制造中的應(yīng)用Sensofar光學(xué)輪廓儀智能化檢測與分析系統(tǒng) Sensofar?S?neox 將共聚焦顯微、白光干涉和多焦面疊加三大技術(shù)融合在同一平臺，實現(xiàn)從超光滑到粗糙表面的全場景測量。

Sensofar光學(xué)輪廓儀智能化檢測與分析系統(tǒng) SensoSCAN軟件作為S neox的核心配套軟件，采用模塊化界面設(shè)計，支持測量模式選擇、參數(shù)設(shè)置與實時成像。

Sensofar三維光學(xué)輪廓儀突破實驗室應(yīng)用限制 S neox具備優(yōu)異的環(huán)境適應(yīng)性，可在多種復(fù)雜環(huán)境下穩(wěn)定工作。設(shè)備采用工程塑料與金屬支撐結(jié)構(gòu)，兼顧輕量化與抗沖擊性能，抗振動性能優(yōu)異。