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布魯克三維光學(xué)輪廓儀讓技術(shù)為產(chǎn)品研發(fā)發(fā)力 在材料科研或光學(xué)研究中，“捕捉細(xì)微變化” 是關(guān)鍵，ContourX-500 能幫科研人員精準(zhǔn)記錄樣品表面的微小狀態(tài)，為研究提供可靠數(shù)據(jù)支撐。

布魯克光學(xué)輪廓儀新手也能玩轉(zhuǎn)的測量設(shè)備 對(duì)很多用戶來說，精密測量設(shè)備的操作門檻是一大顧慮，但 ContourX-500 在設(shè)計(jì)時(shí)就考慮到了這一點(diǎn) —— 從開機(jī)到出結(jié)果，核心步驟簡化至 “選參數(shù)→放樣品→點(diǎn)掃描” 三步，無需專業(yè)背景也能快速上手。

布魯克三維光學(xué)輪廓儀開機(jī)前準(zhǔn)備與檢查 將樣品放在樣品臺(tái)中心，手動(dòng)調(diào)節(jié) X/Y 軸旋鈕，使測量區(qū)域?qū)?zhǔn)物鏡下方；若使用自動(dòng)樣品臺(tái)，在 ContourPro 軟件中輸入目標(biāo)坐標(biāo)，設(shè)備自動(dòng)移動(dòng)定位。

布魯克三維光學(xué)輪廓儀整體結(jié)構(gòu)與機(jī)身用材 ContourX-500 機(jī)身采用高強(qiáng)度壓鑄鋁合金框架，厚度 4.5mm，經(jīng)時(shí)效處理后抗拉強(qiáng)度達(dá) 290MPa，在支撐內(nèi)部精密部件的同時(shí)，將整機(jī)重量控制在 32kg，便于實(shí)驗(yàn)室移動(dòng)。外殼為 ABS+PC 復(fù)合塑料，表面做啞光抗刮處理，防指紋且減少環(huán)境光反射對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的干擾，防護(hù)等級(jí)達(dá) IP42，可阻擋灰塵與輕微濺液。

布魯克三維光學(xué)輪廓儀參數(shù)背后的測量力解析 ContourX-500 是一款通用型三維光學(xué)輪廓儀，主打 “非接觸測量 + 寬測量范圍”，適配電子元件、光學(xué)零件、機(jī)械部件等場景的表面形貌檢測

布魯克白光干涉儀輪廓儀整體結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)理念 ContourX-100三維光學(xué)輪廓儀的操作流程需遵循標(biāo)準(zhǔn)化步驟，以保證測量數(shù)據(jù)的可靠性。設(shè)備型號(hào)為ContourX-100，開機(jī)前需確認(rèn)環(huán)境條件：建議放置在水平工作臺(tái)面，避免強(qiáng)光直射與劇烈振動(dòng)，因設(shè)備雖具備集成防震設(shè)計(jì)，但極環(huán)境仍可能影響測量穩(wěn)定性。