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三維光學(xué)輪廓儀
布魯克白光干涉輪廓儀桌面級(jí)測(cè)量的得力之選 在微觀測(cè)量的廣闊天地里,布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學(xué)輪廓儀憑借其魅力,吸引著眾多科研人員與工業(yè)生產(chǎn)者的目光,為他們的工作帶來(lái)高效與精準(zhǔn)。
布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測(cè)量伙伴 在科研與工業(yè)生產(chǎn)中,對(duì)微觀世界的精準(zhǔn)探索離不開得力的測(cè)量工具。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學(xué)輪廓儀,以其設(shè)計(jì)與實(shí)用性能,為各領(lǐng)域提供了可靠的測(cè)量支持。
Sensofar三維共聚焦輪廓儀多功能表面分析 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
Sensofar三維輪廓儀:共聚焦與干涉測(cè)量結(jié)合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態(tài)測(cè)量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
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